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X射線衍射分析檢測
X射線衍射分析是一種常用的材料分析技術(shù)，通過測定材料中晶體結(jié)構(gòu)的方法來獲得材料的結(jié)晶信息。下面將介紹X射線衍射分析的檢測范圍、檢測項目分類、檢測方法和檢測儀器、以及其服務(wù)優(yōu)勢。
檢測范圍
X射線衍射分析可用于晶體學(xué)分析、材料學(xué)研究、金屬學(xué)分析、化學(xué)分析、藥物結(jié)晶學(xué)、巖礦鑒定等領(lǐng)域。
檢測項目分類
1. 晶體結(jié)構(gòu)分析
2. 晶體質(zhì)量評定
3. 晶體取向測定
4. 晶粒度及晶體尺寸測定
檢測方法和檢測儀器
X射線衍射分析主要通過測定材料樣品散射X射線的特性來分析材料晶體結(jié)構(gòu)。檢測儀器常見的有X射線衍射儀、X射線熒光光譜儀等。
服務(wù)優(yōu)勢
X射線衍射分析具有高精度、高靈敏度、非破壞性、樣品準(zhǔn)備簡單等優(yōu)勢，可為材料研究和質(zhì)量控制提供可靠的數(shù)據(jù)支持。
綜上所述，X射線衍射分析作為一項重要的材料分析技術(shù)，具有廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域和準(zhǔn)確的檢測結(jié)果，是現(xiàn)代科學(xué)研究和生產(chǎn)中不可或缺的一環(huán)。
X射線衍射分析檢測標(biāo)準(zhǔn)列舉
YB/T 172-2000 硅磚定量相分析 X射線衍射法Phase quantitative analysis of silica bricks -- X-ray diffraction method
YB/T 172-2000(2015) 硅磚定量相分析 X射線衍射法Phase quantitative analysis of silica bricks -- X-ray diffraction method
YB/T 172-2020 硅磚定量相分析 X射線衍射法
YS/T 1178-2017 鋁渣物相分析 X射線衍射法
JB/T 11144-2011 X射線衍射儀
JB/T 11144-2011(2017) X射線衍射儀X-ray diffractometer
GBZ 115-2002(2010) X射線衍射儀和熒光分析儀衛(wèi)生防護標(biāo)準(zhǔn)
GBZ 115-2002(2013) X射線衍射儀和熒光分析儀衛(wèi)生防護標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 36923-2018 珍珠粉鑒別方法X射線衍射分析法
GB/T 30904-2014 無機化工產(chǎn)品 晶型結(jié)構(gòu)分析 X射線衍射法
YB/T 5320-2006 金屬材料定量相分析 X射線衍射K值法Metal materials--Quantitative phase analysis--"Value K" method of X-ray diffraction
YB/T 5320-2006(2012) 金屬材料定量相分析 X射線衍射K值法Metal materials--Quantitative phase analysis--"Value K" method of X-ray diffraction
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JB/T 9400-2010 X射線衍射儀 技術(shù)條件
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YB/T 5336-2006 高速鋼中碳化物相的定量分析X射線衍射儀法Carbides in high speed steel--Quantitative phase analysis--Method of X-ray diffractometer
YB/T 5336-2006(2012) 高速鋼中碳化物相的定量分析X射線衍射儀法Carbides in high speed steel--Quantitative phase analysis--Method of X-ray diffractometer
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更多X射線衍射分析檢測標(biāo)準(zhǔn)可咨詢工程師，工程師會根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點、不同行業(yè)和不同國家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)以及客戶的需求，選取相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的項目和方法進(jìn)行X射線衍射分析檢測。
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